概要:FT230台式XRF分析仪的设计大大减少了进行测量的时间。日立工程师意识到样品的设置和测量配方的选择往往会耗费大量的时间,因此推出了一个有着突破性的分析仪,其可以有效地 "设置 "自己,使得在过程中可以分析更多的零......
微束XRF涂层厚度和材料分析仪,方便快速进行质量控制和验证测试,在几秒内即可获得准确的数据。基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供易于使用、快速和无损的分析,几乎不需要样本制备,能够分析元素周期表上从13Al&......
微束XRF涂层厚度和材料分析仪,方便快速进行质量控制和验证测试,在几秒内即可获得准确的数据。基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供易于使用、快速和无损的分析,几乎不需要样本制备,能够分析元素周期表上从13Al&......
微束XRF涂层厚度和材料分析仪,方便快速进行质量控制和验证测试,在几秒内即可获得准确的数据。基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供易于使用、快速和无损的分析,几乎不需要样本制备,能够分析元素周期表上从13Al&......
FT160为微型电子器件的微焦斑分析,这款不会过时的仪器,专为微焦斑和超薄镀层分析而设计,可应对日益小型化的电子行业及PCB板镀层的挑战。■ FT160可提供:1. 毛细管聚焦光学组件和高灵敏度SDD检测器。2. 小于5......
智能镀层分析,数据互联,效率起飞FT200系列台式XRF分析仪的设计大大减少了进行测量的时间。日立工程师意识到样品的设置和测量配方的选择往往会耗费大量的时间,因此推出了一个有着突破性的分析仪,其可以有效地 "设置 "自己......