微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析方法。M4 TORNADO采用了技术,为各种用户提供了佳的分析性能和方便的操控性。· 采用多导毛细管聚焦镜,照射光斑小,......
X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪,配有可编程运行的 X/Y 轴工作台和 Z 轴升降台,用于自动测量超薄镀层厚度或进行痕量分析。FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-SDD®是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析......
X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪,独有多毛细孔X 射线光学系统设计,可自动测量和分析微小部件及结构上镀层厚度和成分。FISCHERSCOPE®-X-RAY XDV-μ®是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它特别适用......
博曼O系列产品概述:O系列采用毛细管光学结构,测试性能良好,同时能实现小的X射线光斑尺寸。该系列用毛细管结构取代了安装在博曼标准机型中的准直器组件。由于多导毛细管可以传递数百倍的能量信号,可以有效提高到达样品表面的入射X射线强度。O系列配备......
博曼L系列产品概述:L系列是博曼的通用机型。该系列将更大的样品室和更大的XY平台相结合。对于大的镀件,L系列是必备品。大样品台和XY行程可实现大镀件的多点测量。 封闭式样品仓可容纳12"x22"x24"(LxW......
博曼O系列产品概述:O系列采用毛细管光学结构,拥有精准的测试性能,同时能实现极小的X射线光斑尺寸。该系列用毛细管结构取代了安装在博曼标准机型中的准直器组件。由于多导毛细管可以传递数百倍的能量信号,可以有效提高到达样品表面的入射X射线强度。O......
博曼L系列产品概述:L系列是博曼的通用机型。该系列将更大的样品室和更大的XY平台相结合。对于大的镀件,L系列是必备品。大样品台和XY行程可实现大镀件的多点测量。 封闭式样品仓可容纳12"x22"x24"(LxW......
FT160为微型电子器件的微焦斑分析,这款不会过时的仪器,专为微焦斑和超薄镀层分析而设计,可应对日益小型化的电子行业及PCB板镀层的挑战。■ FT160可提供:1. 毛细管聚焦光学组件和高灵敏度SDD检测器。2. 小于5......