Fischerscope X-RAY XAN500 是一款可移动使用并且应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪,它特别适用于镀层厚度的无损测量及材料分析。适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。典型的应用领域有:测量大型......
FISCHERSCOPE X-RAY XUL220是一款性能卓越、设计紧凑、应用广泛的X射线荧光镀层及材料分析仪。常用于无损测量细小工件上的镀层厚度和材料分析。特别适合在质量管控、来料检验及生产过程控制中测量使用。典型的应用领域有:在小部件......
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列是应用广泛的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。它是由大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型仪器上发展而来的。与上一代相类似,它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和......
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220 是专为测量印制电路板上镀层厚度及成分分析而设计的入门级、耐用型测量仪。微聚焦X射线管配合比例接收器能够产生高计数率信号,以此造就了高精度的测量。出色的准确性及长期的稳定性是FI......
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是应用广泛的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。这款仪器专门是为测量超薄镀层和微含量而设计,是用于质量控制,质量检验和生产监控的最合适的测量仪器。FISCHERSCOPE X-RAY X......
FISCHERSCOPE X-RAY XULM 系列是性能卓越、设计紧凑、应用广泛的X射线荧光镀层及材料分析仪。常用于无损测量细小工件上的镀层厚度和材料分析。特别适合在质量管控、来料检验及生产过程控制中测量使用。FISCHERSCOPE X......
仪器简介:适用于Windows®2000或Windows® XP的真Win32位程序带在线帮助功能。 频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的产品。 能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使......
仪器简介:适用于Windows®2000或选择适用于Windows® XP的真Win32位程序带在线帮助功能 频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用 能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组......
仪器简介:适用于Windows®2000的真Win32位程序带在线帮助功能; 频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用; 能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使校准简单化; ......
仪器简介:WinFTMV6 是一套专门为解决含量分析和镀层测量的软件 WinFTMV6可在WindowsTM9X//NT/XP平台上运行;因为透过简单操作及准确的分析结果,所以便能够提升生产力。WinFTMV6还有以下的特色……&......