芯片专用-高低温冲击热流仪-快速温变概要:本产品广泛应用于通信、半导体、芯片、传感器、微电子等领域。 在最短时间内检测样品因高低温冷热冲击所引起的化学变化和物理伤害,减少测试与验证时间,快速提高产品研发和生产效率芯片专用-高低温冲击热流仪-......
高低温冲击试验箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber简介:本试验箱适用于考核产品(整机)、元器件、零部件等经受温度急剧变化的能力,该温度冲击验能够了解试验样品一次或连续多次因温度变化而带来......
*冷热冲击试验箱 Hot And Cold Shock Test Chamber设备特点设备还可提供标准高低温试验功能,实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容;高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性;工作室材料为SUS304不锈钢......
一、产品概况 本系列冷热冲击试验机 主要用于测试材料对极高温或极低温的抵抗力,这种情况类似于不连续地处于高温或低温中的情形,冷热冲击试验能使各种物品在短的时间内......
型号CTS-50CTS-120CTS-180尺寸HxWxD(mm)提篮300x460x350500x610x400600x660x450外部2250x1200x19502720x1050x19502920x1100x2150性能参数高温室温......
型号TSL-80ATSL-150ATSL-225ATSL-408ATSU-80WTSU-150WTSU-225WTSU-408WTSS-80WTSS-150WTSS-225WTSS-408W内部尺寸(mm)W500600750850H400......
型号CTS-50CTS-120CTS-180尺寸HxWxD(mm)提篮300x460x350500x610x400600x660x450外部2250x1200x19502720x1050x19502920x1100x2150性能参数高温室温......
型号CTS-50CTS-120CTS-180尺寸HxWxD(mm)提篮300x460x350500x610x400600x660x450外部2250x1200x19502720x1050x19502920x1100x2150性能参数高温室温......
仪器简介:LHS-X-Ⅱ65氙弧灯人工气候老化试验箱。采用水冷氙弧灯作光源,配备光辐照度自动控制系统,具有实时监控及显示功能。光辐照度、温度、相对湿度、氙灯工作功率等试验主要参数采用无(有) 纸记录仪,自动保存,方便调用。采用PLC自动化控......
仪器简介:热冲击试验箱有两个或者三个独立的,并可单独控制的试验箱,产品在这些箱体之间自动移动,从而来实现产品的温度冲击。这样冲击的结果对判断部件的好坏非常有用。技术参数:型号 产品吊篮尺寸 最大 产品负载&nb......