1.设备名称:霍尔效应测试仪2.功能描述:测量半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3.技术参数:3-1测试范围:Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN (N Type &am......
1.设备名称:霍尔效应测试仪2.功能描述:测量半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3.技术参数:3-1测试范围:Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN (N Type &am......