中图仪器CP系列国产探针接触式台阶仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器,用于测量台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数。仪器测量时通过使用2μm半径的金刚石针尖在超精密位移台移动样品时扫描其表面,测针的垂直位移距离被转换为与特征尺寸相匹......
中图仪器CP系列纳米级高精度台阶仪用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量,是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器。仪器采用了线性可变差动电容传感器LVDC,集成超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术,使得仪器具备超高......
CP系列国产膜厚检测台阶仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器,可测量台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数。CP系列台阶仪采用了线性可变差动电容传感器LVDC,具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率,同时,其集成了超低噪声信号采集、超精细......
P-17 Stylus Profiler P-17支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达200mm而无需图像拼接。产品描述P-17是第八......
P-7 Stylus Profiler产品描述P-7支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达150mm而无需图像拼接。P-7建立在市场的P-17台式探......
P-170 Stylus Profiler P-170是cassette-to-cassette探针式轮廓仪,可提供几纳米至一毫米的台阶高度测量功能,适用于生产环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和......
Alpha-Step D-600 Stylus Profiler Alpha-Step D-600探针式轮廓仪能够测量从几纳米到1200微米的2D和3D台阶高度。 D-600还可以在研发和生产环境中支持粗......
Alpha-Step D-500 Stylus Profiler Alpha-Step D-500探针式轮廓仪能够测量从几纳米到1200微米的2D台阶高度。 D-500还可以在研发和生产环境中支持粗糙度、翘曲度和应力的......
德国布鲁克 DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计,可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以达到5Å。台阶仪这项性能的提到了过去四十年Dektak技术创新,更加巩固了其行业地位。不论应用于研发还是产品测量,通过在......
KLA D-300 探针式表面轮廓仪Alpha-Step D-300 探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D 测量。 创新的光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量,大垂直范围和低触力测量功能。 探针测量技......