P-17 Stylus Profiler P-17支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达200mm而无需图像拼接。产品描述P-17是第八......
P-7 Stylus Profiler产品描述P-7支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达150mm而无需图像拼接。P-7建立在市场的P-17台式探......
P-170 Stylus Profiler P-170是cassette-to-cassette探针式轮廓仪,可提供几纳米至一毫米的台阶高度测量功能,适用于生产环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和......
Alpha-Step D-600 Stylus Profiler Alpha-Step D-600探针式轮廓仪能够测量从几纳米到1200微米的2D和3D台阶高度。 D-600还可以在研发和生产环境中支持粗......
Alpha-Step D-500 Stylus Profiler Alpha-Step D-500探针式轮廓仪能够测量从几纳米到1200微米的2D台阶高度。 D-500还可以在研发和生产环境中支持粗糙度、翘曲度和应力的......
KLA D-300 探针式表面轮廓仪Alpha-Step D-300 探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D 测量。 创新的光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量,大垂直范围和低触力测量功能。 探针测量技......
厚度47nm 标准样品,三次重复测量结果叠加 (无任何减噪修正,原始数据输出) 500um扫描, 2um探针 NanoMap-PS2是一款专门为nm级薄膜测量研发的无需防震台即可测量的接触式台阶仪&nb......
厚度47nm光栅标准样品,三次重复测量结果(无任何减噪修正,原始数据输出)NanoMap-......
我们做为世界首台高精度台阶仪、光学轮廓仪的发明者,是生产悠久的公司。实现台阶、高分辨二维形貌、残余应力测定,具有Z向大范围、低于埃级的分辨率、测量台阶高度从nm到mm范围。......
NanoMap 500LS台阶仪特点 ? 该款台阶仪是常规的接触式轮廓仪和扫描探针显微镜技术的完美结合 ? 双模式操作(针尖扫描和样品台扫描),即使在长程测量时也可以得到最优化的小区域三维测图 ? 针尖扫描采用......