P-17 Stylus Profiler P-17支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达200mm而无需图像拼接。产品描述P-17是第八......
P-7 Stylus Profiler产品描述P-7支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达150mm而无需图像拼接。P-7建立在市场的P-17台式探......
P-170 Stylus Profiler P-170是cassette-to-cassette探针式轮廓仪,可提供几纳米至一毫米的台阶高度测量功能,适用于生产环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和......
Alpha-Step D-600 Stylus Profiler Alpha-Step D-600探针式轮廓仪能够测量从几纳米到1200微米的2D和3D台阶高度。 D-600还可以在研发和生产环境中支持粗......
Alpha-Step D-500 Stylus Profiler Alpha-Step D-500探针式轮廓仪能够测量从几纳米到1200微米的2D台阶高度。 D-500还可以在研发和生产环境中支持粗糙度、翘曲度和应力的......
KLA D-300 探针式表面轮廓仪Alpha-Step D-300 探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D 测量。 创新的光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量,大垂直范围和低触力测量功能。 探针测量技......
厚度47nm 标准样品,三次重复测量结果叠加 (无任何减噪修正,原始数据输出) 500um扫描, 2um探针 NanoMap-PS2是一款专门为nm级薄膜测量研发的无需防震台即可测量的接触式台阶仪&nb......
厚度47nm光栅标准样品,三次重复测量结果(无任何减噪修正,原始数据输出)NanoMap-......
我们做为世界首台高精度台阶仪、光学轮廓仪的发明者,是生产悠久的公司。实现台阶、高分辨二维形貌、残余应力测定,具有Z向大范围、低于埃级的分辨率、测量台阶高度从nm到mm范围。......
产品名称:日本小坂KOSAKA 台阶仪型号:ET 4000L台阶仪可以应用在半导体,光伏/太阳能,光电子,化合物半导体,OLED,生物医药,PCB封装等领域的薄膜厚度,台阶仪测量薄膜厚度,台阶高度,粗糙度(Ra,Rq,Rmax…),划痕深度......