Thermo Fisher瑞美RM300EC/瑞美RM310EC 涂层测厚仪“冷”端涂层重量测量仪(是安装在镀锌线的出口处)能够对钢带的金属涂层(涂层成分:锌,锌/镍,锌/铝,铝,锡,铅)重量进行精准、快速及无接触式地凸度测量。这类型的重量......
RX-400在线红外膜厚测定仪 适用范围:适合测量无机/有机透明或半透明薄膜厚度,尤其适用于硅钢表面绝缘涂层厚度的在线测量。主要特点:(1)与X射线比较设备价格低;(2)适于在线测量,可以距离钢板等40mm检测; (3)......
用于钢/铁以及有色金属的清漆、油漆和电镀以及阳氧化涂层的快速测量操作和应用范围:我们的测量仪器Surfix® Pro S 系列产品可lian接不同种类的探头, 适合多种涂层厚度测量。它有大型内存,测量读数、统计功能、红外数据传输和五种不同的......
简易涂层测厚仪Surfix® 简易系列的测量探头均由硬质合金制成,这意味着它具有几乎无限的使用寿命。前端塑料帽 设计有一个V型槽,因此其能够稳定且垂直地定位在水平面、柱面或是弯曲面上。是对于需要使用简易方式测量涂层厚度,还是需要统计评估的用......
当一束光入射到薄膜表面时,薄膜上表面和下表面的反射光会发生干涉,干涉的发生与薄膜厚度及光学常数等有关,反射光谱薄膜测厚仪就是基于此原理来测量薄膜厚度。反射光谱干涉法是一种非接触式、无损的、精确且快速的光学薄膜厚度测量技术。测量范围: 1 n......
MProbe Vis薄膜测厚仪大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS),硬涂层(碳化硅,类......
MProbe UVVisSR薄膜测厚仪大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS),硬涂层(碳......
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS),硬涂层(碳化硅,类金刚石炭),聚合物涂层(聚对二......
采用近红外光谱(NIR)的薄膜测厚仪,可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域,比如在可见光范围内有吸收的太阳能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的测量。采用近红外光谱(NIR)的测厚仪可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用......
产品概述 MProbe MSP显微薄膜测厚仪适用于实时在线测量,多层测量,非均匀涂层, 软件包含大量材料库(超过500材料),新材料可以很容易的添加,支持多重算法:Cauchy, Tauc......