Leica DCM8 白光共焦干涉/光学表面测量系统 设计用于提高您的工作效率,它是一款融合了高清晰度共聚焦显微镜和干涉测量技术优点的多功能双核系统。一键模式选择,精密软件、无移动部件的高分辨率共聚焦扫描技术确保用户实现超快速的......
您所查看的产品表面是否具有比较陡峭的坡度还是具有复杂的形貌?使用高清共聚焦显微镜能够实现2纳米的垂直分辨率。您所查看的产品平面是否非常平整但具有非常微小的尖峰和凹坑?可从以下三种干涉测量模式中选择:垂直扫描干涉测量(VSI);相移干涉测量(......
将目视检验和定性化学检验组合在一个工作步骤中,与使用传统 SEM/EDS 检验相比, 测定微观结构成分 的时间可节省 90%。集成激光光谱功能可在一秒钟内针对您在显微镜中看到的材料结构提供准确的化学元素图谱。用于目视和化......