分立器件参数测试仪系统 陕西天士立科技有限公司/STD2000/分立器件参数测试仪系统可以测试Si,SiC,GaN & IGBT、Mosfet、Diode、BJT、SCR、OC/光耦......等很多电子元器件的静态直流参......
半导体分立器件静态参数测试仪系统 陕西天士立科技有限公司/STD2000/半导体分立器件静态参数测试仪系统可以测试Si,SiC,GaN & IGBT、Mosfet、Diode、BJT、SCR、OC/光耦等多种电子元器件的静......
品牌: TIANSHILI 名称: IGBT功率循环试验系统 型号: ST-PCX 用途: 功率循环老化设备主要是针对IGBT可靠性行进行实验,又称主动循环!功率循环测试-简介 &n......
测试种类:大功率IGBT模块输出能力:电压起步1500V(可扩展至10KV);电流起步600A(可扩展至10KA)测试参数:开关特性;栅极特性Qg;反恢特性Qrr_FRD;栅极阻容特性和短路雪崩特性可选配工作模式:程控脉冲测试 ......
n 测试对象:光如单通道、双 工作模式:单次单通道,10档位,程控脉冲测试 测试对象: &nb......
测试对象:DIODE、MOSFET、IGBT、JFET、SCR、TRIAC、OPTO等25类半导体分立器件 测试项目:导通参数,截止参数,传输参数等,几乎涵盖所有静态参数 输出能力:电压MAX 2000V 电流M......
TIANSHILI功率器件安全工作区测试系统ST-FBSOA_X 测试IGBT、MOS等器件的正向偏置安全工作区主要配置: ......
名称:二极管浪涌电流测试系统 用途:测试二极管正向浪涌电流这个关键指标 ......
n 根据工艺定制化设备生产流程,同时可整合多款测试设备共线生产n 与自动化产线深度融合,并上传生产数据至MESn 不同产品测试上线,可通过更改测试工装,实现多款产品的测试切换n 10分钟内可加热到150℃及以上n 风冷+水冷,实现对模块快速......
Wen_X系列“变温气流仪”属于“温度宽、精度高、变温快、智能化”的新一代高低温环境创造设备。变温范围覆盖-90℃至+225℃,温控精度±1℃,显示精度±0.1℃。机械制冷,无需液氮或其它消耗性制冷剂。提供先进的温度转换测试能力,经长期的多......