FEI Scios™ 是一款超高分辨率 DualBeam™ 分析系统,能为包括磁性材料在内的众多样本提供出色的二维和三维性能。FEI Scios 的创新功能可提高通量、精度与易用性,非常适于学院、政府和工业研究环境中的纳米量级研究与分析。高......
第二代专为冷冻断层扫描分析制备冷冻超薄切片的冷冻聚焦离子束显微镜Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam(冷冻聚焦离子束显微镜,Cryo-FIB)是一款专用的冷冻双束显微镜系统,可为......
TESCAN AMBER 是 TESCAN 第四代 FIB-SEM 的新成员,是一款超高分辨双束 FIB-SEM 系统,它可以提供无与伦比的图像质量,具有强大的扩展分析能力,并能以极佳的精度、效率完成复杂的纳米加工和操作,可满足现今工业研发......
TESCAN SOLARIS X是一款氙(Xe)等离子超高分辨双束FIB-SEM系统,配置新颖的TriglavTM 超高分辨率电子镜筒以及zei新款的iFIB+TM离子镜筒,它的超高分辨表征能力和无与伦比的样品制备效率,足以应对半导体和材料......
TESCAN AMBER X 是完美结合了分析型等离子 FIB 和超高分辨(UHR)扫描电镜的综合分析平台,能够很好的应对传统的 Ga 离子 FIB-SEM 难以完成的困难挑战。TESCAN AMBER X 配置了氙(Xe)等离子 FIB ......
TESCAN SOLARIS 新一代超高分辨镓离子FIB-SEMTESCAN SOLARIS 是一款镓离子源的 FIB-SEM 系统,适用于超薄 TEM 样品制备和其它具有挑战性的纳米加工任务,这些任务要求设备具有zei佳的分辨率......
产品描述: Thermo Scientific Scios 2 DualBeam是一款超高分辨率分析系统,可为的最广泛类型的样品,包括磁性和不导电材料提供出色的样品制备和三维表征性能。 Scios 2 DualBeam系统创新性的......
产品描述:新一代的赛默飞世尔科技 Helios 5 DualBeam 具有 Helios 5 产品系列业界领先的高性能成像和分析性能。它经过精心设计,可满足材料科学研究人员和工程师对最广泛的 FIB-SEM 使用需求,即使是最具挑战性的样品......
Thermo Scientific™ Helios™ 5 Laser PFIB提供了无与伦比的能力,极端大体积3D分析,Ga-free样品制备,和精密微加工。具有创新的,完全集成的飞秒激光器,它提供最快的材料去除率......
第二代专为冷冻断层扫描分析制备冷冻超薄切片的冷冻聚焦离子束显微镜Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam(冷冻聚焦离子束显微镜,Cryo-FIB)是一款专用的冷冻双束显微镜系统,可为......