产品描述: Thermo Scientific Scios 2 DualBeam是一款超高分辨率分析系统,可为的最广泛类型的样品,包括磁性和不导电材料提供出色的样品制备和三维表征性能。 Scios 2 DualBeam系统创新性的......
产品描述:新一代的赛默飞世尔科技 Helios 5 DualBeam 具有 Helios 5 产品系列业界领先的高性能成像和分析性能。它经过精心设计,可满足材料科学研究人员和工程师对最广泛的 FIB-SEM 使用需求,即使是最具挑战性的样品......
Thermo Scientific™ Helios™ 5 Laser PFIB提供了无与伦比的能力,极端大体积3D分析,Ga-free样品制备,和精密微加工。具有创新的,完全集成的飞秒激光器,它提供最快的材料去除率......
第二代专为冷冻断层扫描分析制备冷冻超薄切片的冷冻聚焦离子束显微镜Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam(冷冻聚焦离子束显微镜,Cryo-FIB)是一款专用的冷冻双束显微镜系统,可为......
对高性能、高能效电子产品的需求正在推动具有更小、更密集的功能和复杂的3D结构的先进设备的发展。这些尖端微处理器、存储器件和其他产品的产能生产极具挑战性,需要对深埋在器件内部的特征进行高分辨率、原子级分析。透射电子显微镜(TEM)正日益成为这......
Helios Hydra DualBeam4 个快速切换离子种类(Xe、Ar、O、N),用于对种类最丰富的材料进行优化 PFIB 处理Ga-free TEM 样品制备极高分辨率 SEM 成像Helios 5 Hydra DualBeam具有......
Helios 5 DualBeam全自动、高质量、超薄 TEM 样品制备高通量、高分辨率的亚表面和 3D 表征快速纳米原型设计能力Helios 5 DualBeam用于 TEM 和 STEM 成像或原子探针断层扫描的样品制备。产品可实现先进......
Helios 5 PFIB DualBeam无镓 STEM 和 TEM 样品制备多模式亚表面和 3D 信息新一代 2.5 μA 氙气电浆 FIB 色谱柱Helios 5 PFIB DualBeam用于 TEM 样品制备(包括 3D 表征、横......
产品参数:发射源:高稳定型肖特基场发射电子枪分辨率:☆最佳工作距离下1.4nm(1keV)电子束参数:☆探针电流范围:1pA – 400nA ☆加速电压范围:200V ~ 30kV ☆着陆电压范围:20eV ~ 30ke......
产品参数:半导体行业技术参数:Helios 5 CXHelios 5 HPHelios 5 UXHelios 5 HXHelios 5 FX样品制备与XHR扫描电镜成像最终样品制备(TEM薄片,APT)STEM亚纳米成像与样品制备SEM着陆......