TESCAN AMBER X 是完美结合了分析型等离子 FIB 和超高分辨(UHR)扫描电镜的综合分析平台,能够很好的应对传统的 Ga 离子 FIB-SEM 难以完成的困难挑战。TESCAN AMBER X 配置了氙(Xe)等离子 FIB ......
TESCAN SOLARIS 新一代超高分辨镓离子FIB-SEMTESCAN SOLARIS 是一款镓离子源的 FIB-SEM 系统,适用于超薄 TEM 样品制备和其它具有挑战性的纳米加工任务,这些任务要求设备具有zei佳的分辨率......
TESCAN SOLARIS X是一款氙(Xe)等离子超高分辨双束FIB-SEM系统,配置新颖的TriglavTM 超高分辨率电子镜筒以及zei新款的iFIB+TM离子镜筒,它的超高分辨表征能力和无与伦比的样品制备效率,足以应对半导体和材料......
随着半导体电子器件及集成电路技术的飞速发展,器件及电路结构越来越复杂,这对微电子芯片工艺诊断、失效分析、微纳加工的要求也越来越高。FIB双束扫描电镜所具备的强大的精细加工和微观分析功能,使其广泛应用于微电子设计和制造领域。产品描述:新一代的......
FIB双束扫描电镜是指同时具有聚焦离子束(FocusedIonBeam,FIB)和扫描电子显微镜(ScanningElectronMicroscope,SEM)功能的仪器。它可以实现SEM实时观测FIB微加工过程的功能,把电子束高空间分辨率......
FIB是将液态金属离子源产生的离子束经过加速,再聚焦于样品表面产生二次电子信号形成电子像,或强电流离子束对样品表面刻蚀,进行微纳形貌加工,通常是结合物理溅射和化学气体反应,有选择性的刻蚀或者沉积金属和绝缘层。产品描述:新一代的赛默飞世尔科技......
FIB双束扫描电镜截面分析,运用离子束刻蚀或气体增强刻蚀,FIB技术可以精确地在器件的特定微区进行截面观测,形成高分辨的清晰图像,并且对所加工的材料没有限制,同时可以边刻蚀边利用SEM实时观察样品,截面分析是FIB最常见的应用。产品描述:新......
镓(Gallium)是灰蓝色或银白色的金属,元素符号Ga,原子量69.723。镓的熔点很低,但沸点很高。纯液态镓有显著的过冷的趋势,在空气中易氧化,形成氧化膜。TESCAN SOLARIS 新一代超高分辨镓离子FIB-SEMTESCAN S......
镓在干燥空气中较稳定并生成氧化物薄膜阻止继续氧化,在潮湿空气中失去光泽。与碱反应放出氢气,生成镓酸盐。能被冷浓盐酸浸蚀,对热硝酸显钝性,高温时能与多数非金属反应;溶于酸和碱中,镓在化学反应中存在+1、+2和+3化合价,其中+3为其主要化合价......
镓的活动性与锌相似,却比铝低。镓是两性金属,既能溶于酸(产生Ga3+)也能溶于碱。镓在常温下,表面产生致密的氧化膜阻止进一步氧化。加热时和卤素、硫迅速反应,和硫的反应按计量比不同产生不同的硫化物。TESCAN SOLARIS 新一代超高分辨......