仪器简介:X-MaxN 的晶体尺寸从适合于微米分析的20 mm2到纳米材料分析专用150 mm2的共四种可选。尤其是150 mm2为当今晶体面积zei大的探测器,分析速度至少是普通探测器的两倍。总览探测器晶体尺寸可选,分别为150 mm2,......
X-MaxN 80T用于TEM 的X-Max N系列SDD采用新型晶体、电子电路和封装技术,是一款真正的“新一代”SDDX-Max N TEM探测器采用新的低噪声探测器设计,具有出色的分辨率和灵敏度 - 即使在......
Ultim Extreme 硅漂移探测器是高分辨率场发射扫描电镜应用的一个突破,可提供远远超越传统微米和纳米分析的解决方案。Ultim Extreme是Ultim Max系列中的一款无窗能谱,晶体面积100mm2,经优化设计来尽可能提高灵敏......
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牛津仪器X-MaxN硅漂移探测器仪器简介:X-MaxN 的晶体尺寸从适合于微米分析的20 mm2到纳米材料分析专用150 mm2的共四种可选。尤其是150 mm2为当今晶体面积zei大的探测器,分析速度至少是普通探测器的两倍。总览探测器晶体......
为了探测穿透能力较强的γ射线,要求探测器有更大的灵敏区。这种效果通常是使锂漂移进入p型半导体材料,进行补偿而获得。由于锗比硅对γ射线有更高的探测效率,故一般采用锗(锂)漂移探测器。这种探测器的灵敏体积可大于200厘米3。但是,由于其死层较厚......
锗(锂)漂移探测器,这种探测器的灵敏体积可大于200厘米3。但是,由于其死层较厚,故在探测较低能量的x射线时,往往采用硅(锂)漂移探测器。锂漂移型探测器的另一个特点,是当它被用来探测x及γ射线时必须保持在低温(77k)和真空中工作。仪器简介......
总览探测器晶体尺寸可选,分别为150 mm2,80 mm2,50 mm2,20 mm2无论晶体面积或大或小,X-MaxN 的分辨率始终如一的好——并符合标准ISO15632:2012无论晶体尺寸如何,能谱仪外管尺寸及在电镜中的位置完全一致,......
X-MaxN 的晶体面积有20mm2, 50mm2, 80mm2 and 150mm2 –其中150mm2 是当今晶体面积zei大的能谱仪因其独特地外置型FET场效应管设计,X-MaxN 的分辨率完全不受晶体面积变化的影响始终如一,且保证全......
Ultim Max TEM,搭载于透射电子显微镜(TEM)主要用于纳米尺度成分分析和元素面分布分析。全新设计80mm2的传感器,进一步接近样品并提供更多的x射线计数。UltimMax TEM结合了无窗设计和低噪音电子元器件 , 为 200k......