霍尔效应测试系统(霍尔效应测试仪)HET-3RT依据范德堡法则测量材料的电运输性能参数,如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等,薄膜或薄层材料均可测量,可应用于所有半导体材料,包括Si、ZnO、SiGe、SiC,GaAs,InGaAs,I......
多通道自动化霍尔测试系统,MAS-M91-HALL (Multi channel Auto hall effect measurement System)可在电磁场、液氮环境(77K)下,对多电极圆柱型晶锭、D型晶锭和晶圆片等多种类......
带有快速霍尔测量能力的霍尔表征平台。 快速霍尔平台包括带有Windows®10系统的电脑、0.8T永磁体、高精度样品座,以及配套的软件和电缆,提供一系列测量能力,包括高达1GΩ的样品电阻和低至0.01cm 2 /Vs的迁移率测量-......