岛津
赛默飞
天瑞仪器
理学
EA1400 ,日立分析仪器
EA1400全新的硅漂移探测器(SDD)设计能提高分析镉和铅等RoHS物质的准确度和速度。新优化的x射线照射方法可提高分析不平坦和不规则表面的可重现性。此外,高性能探测器能提高计数率,增加探测痕量元素的精密度,并且实现测量较轻元素的卓越能力......
FT110A,日立分析仪器
■ 即放即测:无需人工对焦造成误差,测量结果更可靠。■ 测试速度快:3秒自动对焦,10秒钟完成50nm级极薄镀层的测量。■ 无标样测量:与以往的技术相比,薄膜FP软件得到进一步扩充,即使没有标准品也能精确测量。......