微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析方法。M4 TORNADO采用了技术,为各种用户提供了佳的分析性能和方便的操控性。· 采用多......
微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析方法。M4 TORNADO采用了技术,为各种用户提供了佳的分析性能和方便的操控性。· 采用多导......
CRONO是一款可移动且可重新配置的快速检测的微型XRF扫描仪。基于EDXRF技术,可对大型样品进行原位,非破坏性和快速检测。XRF组件完全集成到一个紧凑的测量头中,元素检测范围从Na到U,并具有的检测结果,即使在低于2keV或高于25ke......
微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析方法。M4 TORNADO采用了技术,为各种用户提供了佳的分析性能和方便的操控性。· 采用多......
仪器简介TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法,但与X射线能谱形成对比的是,传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品,而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角,原级X光束几乎可以全部被反......
TX 2000 全反射X荧光光谱仪 应用于环境分析领域X射线荧光(XRF)是当原级X射线照射样品时,受激原子内层电子产生能级跃迁所发射的特征二次X射线。该二次X射线的能量及强度可被探测,与样品内待测元素的含量相关,此为XRF光谱仪的理论依据......
TX 2000 全反射X荧光光谱仪 应用于制药分析领域EDXRF中X射线的出入射角度通常约为40度,分析深度通常发生在近表层100μm左右,有较强的背景及基体影响;TXRF为EDXRF的变种,其入射角度<0.1度,分析深度通常<......
TX 2000 全反射X荧光光谱仪 应用于化学纯度分析领域通常,仅需将样品溶液或悬浊液置于支撑的光学平面上(如石英玻璃),蒸干后,残留物上机检测。因平面的高反射率,载体的光谱背景几乎被消除;少量的残留物所形成的薄层样品基体效应很小,具有以下......
TX 2000 全反射X荧光光谱仪 应用于核材料工业领域仪器简介TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法,但与X射线能谱形成对比的是,传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品,而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于......