天瑞ICP-MS引领国内电感耦合等离子体质谱仪技术发展

　　电感耦合等离子体质谱仪(简称ICP-MS)，是20世纪80年代发展起来的一种新的微量(10-6)、痕景(10-9)和超痕量（10-12)元素分析技术。与传统无机分析技术相比，ICP-MS技术提供了检出限低、动态线性范围宽、干扰少、精密度高、速度快以及可提供精确的同位素信息等分析特性，从性能上比传统的无机分析技术如电感耦合等离子体光谱(ICP-AES)、原子吸收(AAS)和原子荧光(AFS)等有较大的提升。

　　近年来，ICP-MS技术得到进一步的发展，2012年江苏天瑞仪器股份有限公司推出了国内首台产业化电感耦合等离子体质谱仪ICP-MS 2000型号四极杆式ICP-MS，一举打破国际技术垄断。并于2014年升级为带有碰撞反应池的ICP-MS 2000E型号，获得分析仪器同行的瞩目。

　　四极杆ICP-MS的基本结构由进样系统、离子源、锥及离子透镜、四极杆分析器、真空系统和检测器等硬件部分组成(部分型号还包括用以消除干扰的反应池部分)，此外还包括用于冷却系统、气体管路、仪器控制和数据分析系统等支撑辅助部分。下面小编带你细数近年来天瑞ICP-MS的技术进展。

　　2012年，天瑞推出国内首台产业化电感耦合等离子体质谱仪ICP-MS 2000，仪器各项性能均达国家标准，能够满足用户应用需要。被应用于环境、食品、半导体、医药及生理分析领域、核工业等多个领域。性价比高，获得各行业客户的青睐。

　　2014年，天瑞推出自主研发的最新型电感耦合等离子体质谱仪ICP-MS 2000E，仪器整体性能指标优异，性价比高；采用最新的碰撞反应池技术，有效的消除多原子离子干扰，降低易受干扰元素的检出限；智能化软件，集成应用方法包，简化样品测试过程，提高测试数据的可靠性。ICP-MS 2000E已广泛应用于环境、食品、半导体、核工业、石油化工、矿产、医药及生理分析等领域。

　　ICP-MS技术进展

　　碰撞反应池

　　ICP-MS中质谱干扰主要为多原子离子干扰，通常可采用数学干扰校正方程进行校正或采用碰撞反应功能，消除多原子干扰离子。碰撞反应功能是指在质谱仪内引入碰撞反应气体，使某些多原子干扰离子发生解离、转移等反应，降低干扰离子对待测同位素的影响。

　　进样系统

　　样品引入系统可分为液体、气体或固体进样，通常标配是液体进样系统，主要由样品提升和雾化两个部分组成，优秀的进样系统应当是雾化器雾化效率高，稳定性高，记忆效应小，耐腐蚀。天瑞采用敞开式进样系统结构，使用外部安装的雾化器，自我定位，无需调整。

　　接口

　　接口部分是ICP-MS的关键部分，它能将等离子体中的离子有效传输到质谱仪，需要保障最大限度的离子通过率和完整性，减少氧化物和二次离子等干扰，同时还要不易堵塞和易于拆卸维护。接口一般是由采样锥和截取锥组成的，天瑞ICP-MS 2000（E）中的镍锥，具有独特的活动接口门结构，易于替换和装卸采样锥与截取锥。

　　离子透镜

　　离子透镜的作用是将来自截取锥的离子聚焦到质量过滤器，并阻止中性原子进入和减少来自ICP的光子通过量。离子透镜需要兼顾低、中、高质量的离子都具有高灵敏度，并有效降低仪器的背景噪声水平。天瑞仪器ICP-MS 2000（E）配有高效率六极杆离子导向系统，在全质量范围内获得最佳的离子传输效率，全自动的离子聚焦调谐过程，真空室内的透镜使用非对称安装，方便拆装定位。

　　检测器

　　当离子按质荷比经过四极杆系统的分离后，即被引入检测器，检测器将离子转换成电子脉冲，由积分线路计数，其计数值与样品中该质荷比的离子浓度应该正相关。检测器的重要指标包括死时间、最佳灵敏度、动态线性范围和脉冲与模拟信号的交叉校正等。配备ETP双模式检测器，分成两部分分列打拿极电子倍增器，无需数/模切换。

　　近年来国家支持国产科学仪器的自主创新研究，天瑞相信只要沿着正确的方向坚定的走下去，一定会破解国外产品垄断中国市场的局面。作为国内分析仪器领导者，引领着国产仪器发展一步步走向辉煌，为我国分析检测市场创建出更加繁荣的篇章，是天瑞义不容辞的义务。