产品描述
iEDX-100T镀层测厚仪采用非真空样品腔；
专业用于镀层厚度，金属电镀镀层分析；
可增加合金成份分析及RoHS功能；
应用于金属电镀镀层分析领域；
iEDX-100T镀层测厚仪应用于金属电镀镀层分析领域
技术指标
多镀层分析，1～5层
测试精度：0.001 μm
元素分析范围从铝(Al)到铀(U)
测量时间：10~30秒
SDD探测器，能量分辨率为125±5eV
探测器Be窗0.5mil（12.7μm）
微焦X射线管50kV/1mA，钼，铑靶（高配微焦钼靶）
6个准直器及多个滤光片自动切换
高清CCD摄像头（200万像素），准确监控位置
多变量非线性去卷积曲线拟合
高性能FP/MLSQ分析
仪器尺寸：450×520×385mm
图谱界面
软件支持无标样分析
宽大分析平台和样品腔
集成了镀层分析界面和合金成份分析界面
采用多种光谱拟合分析处理技术
镀层测厚分析可达到0.001μm
分析报告结果
直接打印分析报告
报告可转换为PDF，EXCEL格式
样品分析图谱：
测试结果界面：
