安东帕 纳米粒度及Zeta 电位分析仪Litesizer DLS系列
安东帕 纳米粒度及Zeta 电位分析仪Litesizer DLS系列
价格:面议

安东帕 纳米粒度及Zeta 电位分析仪Litesizer DLS系列

产品属性

  • 品牌安东帕
  • 产地奥地利
  • 型号Litesizer DLS系列
  • 关注度1469
  • 信息完整度
  • 产地类别进口
  • 供应商性质生产商
  • 仪器种类粒度和Zeta电位分析
关闭

发布时间:2023年10月

用户
  • 天津天津工业大学

  • 山东-青岛青岛大学

  • 浙江温州温州医科大学

  • 甘肃-兰州甘肃省科学院

  • 福州福建医科大学

  • 福建-福州-闽侯县福州大学

产品描述

Litesizer DLS 系列只需一键触摸即可表征纳米和微米粒子。借助这些动态光散射仪器,您可以在较宽的浓度范围内测定分散体中的颗粒以及溶液中的肽或大分子,从而缩短样品制备时间。

关键功能

得益于完美的角度选择 - 无论您的样品如何

得益于完美的角度选择 - 无论您的样品如何

  • 通过多角度粒度测定 (MAPS) 确保实现不同大小群体的高分辨率

  • 从三个检测角度(侧向、后向或前向散射)中进行选择,以实现最佳参数设置

  • 手动选择最适合的动态光散射仪器角度或使用自动角度选择 

  • 得益于多功能后向散射角,这对于浊度样品较理想,其减少了多个散射事件,确保优秀的数据质量。

依靠我们的 cmPALS 技术进行 zeta 电位测量

依靠我们的 cmPALS 技术进行 zeta 电位测量

  • 通过 Litesizer DLS 700 和 Litesizer DLS 500 您可以通过电泳光散射法执行 zeta 电位测量。

  • 在低样品浓度(低至 0.1 mg/mL) 下采用我们的 cmPALS 专利技术(欧洲专利 2 735 870) 

  • 使用 cmPALS 享受更短的测量时间和极低的样品降解

  • 使用我们 zeta 电位样品池独特 Ω 形毛细管完成高度可重复的 zeta 电位测量

在颗粒浓度测量中模式保持灵活性

在颗粒浓度测量中模式保持灵活性

  • 使用 Litesizer DLS 700 对一个样品中高达三种不同大小的粒子群进行免校准颗粒浓度测量

  • 使用这种基于单角度 DLS 或多角度粒度分析 (MAPS) 的模式可确保适用于较宽浓度范围内的单分散和多分散样品

实现样品监测的持续的透光率测量

实现样品监测的持续的透光率测量

  • 享受样品的即时反馈 — 动态光散射仪器能够连续测量透射率

  • 充分利用自动优化测量参数(如测量角度、焦点位置和持续时间) 

  • 在一系列测量中获取有关沉积或聚集开始的数据

使用同一仪器测定折射率

使用同一仪器测定折射率

  • 使用 Litesizer DLS 700 和 Litesizer DLS 500 在 DLS 或 ELS 测量的精确波长和温度下测量溶剂的折射率(欧洲专利 3 023 770) 

  • 确保在所有试验条件下,获得出色的粒径和 zeta 电位值。

  • 借助 Litesizer DLS 700 和 Litesizer DLS 500 测定 ±0.5% 以内的折射率

只需点击几下即可掌控您的测量

只需点击几下即可掌控您的测量

  • 使用我们简便易用的粒度软件 Kalliope 管理数据

  • 通过我们独特的单页工作流程,一目了然地了解您的输入参数、测量信号和结果 

  • 得益于预定义标准报告和结构化结果概览,快速查看您的测量结果 

  • 通过分析功能、Excel 报告,和自定义报告模板来深入挖掘您的数据

  • 符合 21 CFR Part 11 规定



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