S8000G FIB-SEM的优点：

· 新一代镜筒内电子加速、减速技术，保证了复杂样品的低电压高分辨观测能力

· 首次配置的静电-电磁复合物镜，物镜无磁场外泄，实现磁性样品高分辨成像及分析

· 配置4个新一代探测器，可实现9种图像观测，对样品信息的采集更加全面

· 配置大型样品室，有超过20个扩展接口，为原位观测、分析创造了良好的工作环境

· 可以配置TESCAN自有或第三方的多种扩展分析附件，并独家实现与TOF-SIMS、Raman联用

· 新一代操作软件和自动功能，FIB镜筒具有全自动的离子镜筒对中，极大简化了操作

· 概述

新一代 Orage™ Ga FIB镜筒，适用于各类具有挑战性的纳米加工任务

TESCAN S8000配置了最新的BrightBeam™镜筒，实现了无磁场超高分辨成像，可以最大化的实现各种分析，包括磁性样品的分析。新型镜筒中的电子光路设计增强了低能量电子成像分辨率，特别适合对电子束敏感样品和不导电样品的分析。创新的Orage™ Ga FIB镜筒配有最先进的离子枪和离子光学镜筒，使得TESCAN S8000G成为了世界顶级的样品制备和纳米图形成型的仪器。

S8000G束流可达100nA，具有超快速的加工能力，新颖的SmartMill高速切割功能，使得加工效率提升一倍。
S8000G离子能量最低可达500eV，拥有更优秀的低压样品制备能力，可以快速制备无损超薄TEM样品。
可以配置TESCAN自有或第三方的多种扩展分析附件，并独家实现与TOF-SIMS、Raman一体化。



新一代OptiGIS™气体注入系统

S8000可配置最新的多种探测器，包括透镜内Axial detector 以及 Multidetector，可选择不同角度和不同能量来收集信号，体现更多种类的信息，同时获得更好的表面灵敏度和对比度。S8000G有两种气体注入系统可供选择，标准的5针-GIS和新一代OptiGIS单针-GIS，单针的OptiGIS支持通过更换气罐来更换化学气体，避免了以往多针气体注入系统样品仓内占用空间大的问题。

两种气体注入系统均可以选择多种沉积气体，其中W、Pt、C等用于导电材料沉积，SiOx用于绝缘材料沉积，XeF2、H2O等用于增强刻蚀，或其它定制气体。



新一代Essence™操作软件，更简单、高效的操作平台

S8000可配置最新的多种探测器新操作软件极大简化了用户界面，能快速访问各主要功能，减少了繁琐的下单菜单操作，并优化了操作流程向导，易于学习，兼容多用户需求，可根据工作需要定制操作界面。

新颖的样品舱内3D空间位置和移动轨迹模拟功能，可避免误操作，造成碰撞。


样品舱内的3D空间位置和移动轨迹模拟