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上照型顺序式WDXRF ZSX Primus III +
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上照型顺序式WDXRF ZSX Primus III +
元素从O到U的分析 光管在上方的光学器件使污染问题最小化(独家)· 占地面积小,使用较少宝贵的实验室空间· 高精度样品定位 特殊光学元件减少了弯曲的样品表面造成的误 统计过程控制软件工具(SPC) 疏散和真空泄漏率可以优化吞吐量
PIPES指数:1.0用户:应用:

型号型号: ZSX Primus III +

品牌品牌:乔邦仪器

产地产地:日本

深圳乔邦仪器有限公司

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核心参数
产地: 亚洲
供应商性质: 一般经销商
产地类别: 进口
价格范围:
原理:
色散单元:
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产品描述

ZSX Primus III +   上照型WDXRF

固体 液体 粉末 薄膜 合金的元素分析

Rigaku ZSX Primus III +以很少的标准在各种样品类型中快速定量测定从氧气(O)到铀(U)的主要和次要原子元素。

ZSX Primus III +具有创新的光学上述配置。由于样品室的维护,再也不用担心被污染的光束路径或停机时间。光学元件以上的几何结构消除了清洁问题并延长了使用时间。

高精度样品定位

样品的高精度定位确保样品表面与X射线管之间的距离保持恒定。这对于要求高精度的应用很重要,例如合金分析。ZSX Primus III +采用独特的光学配置进行高精度分析,旨在限度地减少样品中非平坦表面引起的误差,如熔融珠和压制颗粒

使用EZ-scan软件的SQX基本参数

EZ扫描允许用户在未事先设置的情况下分析未知样品。节省时间功能只需点击几下鼠标并输入样品名称。结合SQX基本参数软件,它可以提供最准确,最快速的XRF结果。SQX能够自动校正所有的矩阵效应,包括线重叠。SQX还可以校正光电子(光和超轻元素),不同气氛,杂质和不同样品尺寸的二次激发效应。使用匹配库和完美的扫描分析程序可以提高准确度。

特征

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元素从O到U的分析

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光管在上方的光学器件使污染问题最小化(独家)

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占地面积小,使用较少宝贵的实验室空间

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高精度样品定位

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特殊光学元件减少了弯曲的样品表面造成的误差

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统计过程控制软件工具(SPC)

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疏散和真空泄漏率可以优化吞吐量



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