电子显微镜分析仪器

SEM QUANTAX EDS

XFlash® 7 - 最新 EDS 探头系列

优化的设计            更好的分析

快速、精准、可靠

亮点

1,000,000 cps：有效输出计数可达 1,000,000 cps，无与伦比的分析速度

> 2,200 条元素谱线：包含所有 K，L，M 和 N 线系的全系原子数据库，可以对复杂的数据进行定量分析

> 1.1 sr：更大的采集立体角，优化的几何结构，更快的采集速度，更高的测试效率

用于 SEM, FIB-SEM 和 EPMA 的能量分散谱仪

• 布鲁克的最新一代 QUANTAX EDS  XFlash® 7 能谱探头具有最大的采集立体角 ( Solid Angle) 和更高的输出计数率。

• XFlash® 7 继续引领扫描电子显微镜 (SEM) 、聚焦离子束 (FIB-SEM) 和电子探针 (EPMA) 上能谱分析的性能与功能的标准。

• XFlash® 7 探头还为 TEM 和 SEM 中可以透过电子的样品提供了优化的解决方案，此外，独特的 XFlash® FlatQUAD 为一些高难度样品提供了更好的解决办法。

• Slim-line 技术，大立体角设计，最新一代脉冲处理器。

• 更好的能量分辨率和采谱性能。

• 精致的定量算法，独特的有标样和无标样定量分析方法有效提高了分析结果的准确性。

高效的元素分析

• 每一套EDS系统都独立进行优化，保证以更快的速度得到更精确的结果。

• 更大的输出计数率使测量时间大大缩短，可以在任何条件下进行定量和面分布分析而不再受数据量的困扰。

• 优化的结构设计，可以分析各种高难度的样品。

• 优化的设计降低了背底和吸收的影响，使定量结果更为准确可靠。

• 更低的背底和吸收使检测限更小，可以检测到更低含量的元素。

• 一体化的 ESPRIT 软件平台将EDS, WDS, EBSD 和 微区-XRF 无缝组合，成为一个综合的分析平台，可用于所有的 SEM, FIB-SEM 以及 EPMA。