[ 应用领域 ]

1. 材料科学，如三维无损分析

2. 生命科学，如微观结构成像

3. 地球科学，如地质、油气、矿产、古生物等三维成像

4. 电子和半导体行业，如形貌测量及失效分析

5. 原位力学、变温试验

[ 产品特点 ]

1. 三维无损成像

2. 700 nm真实空间分辨率

3. 独特的大工作距离下高分辨率，可实现不同类型、尺寸和类型样品多尺度成像

4. 吸收、相位衬度成像模式

5. 4D 原位成像能力

6. 可升级、拓展和可靠性

[ 产品详情 ]

蔡司X射线显微镜 Xradia 510 Versa，凭借其突破性技术和高分辨率探测器，将 3D X 射线显微镜的性能提升至新的高度，为各种尺寸的样品提供亚微米级成像解决方案。通过其优异的分辨率、衬度和灵活的工作距离以及原位／4D 解决方案的强大组合，有力拓展了非破坏性的实验室成像能力。创新的成像成都和图像采集技术让您能够自由地定位于发现更多信息，进行深度探索，从而获取新的发现。