型号：QE-2000
品牌：大塚电子
产地：日本
| 产地： | 亚洲 |
|---|---|
| 供应商性质： | 一般经销商 |
| 产地类别： | 进口 |
QE-2000 使用高精度测量仪（注1），利用激发光和荧光的光量子数求得量子效率（量子产额），从而实现绝对的高精度测量。
| 此前方法 | QE2000 | ||
| 粉剂试料 | 用配光法
（测量空间分布）测量 |
使用积分半球测量 | •操作简单
•短时间内即可测出 •装置简单精巧 •不需要暗室 |
| 粉剂试料 | 量子效率（量子产额）
对比测量 已知试料 与对象试料 |
只测量对象试料
使用积分半球测量 |
•短时间内即可测出
•不需要其他准备测试（吸光度测试 等） •不需要已知试料的量子效率（量子 产量），不依赖于已知试料的精度 |
注1：根据计量法校正企业登录制度（JCSS），按照国家标准可追踪标准光源进行校正。
量子效率（量子产额）的测量示意图
参考值以及样品的激发光、荧光光谱的测量示例
注2：荧光体试料所吸收的光量子数
实现绝对测量的大塚电子专注于以下3 点。
专注于高精度测量
可以瞬间测得绝对量子效率（绝对量子产额）
可以除去激发荧光发光光谱
采用积分半球系统，实现高亮度测量
采用低杂光多频分光检出器，大幅度减少紫外域的杂光
使用专用软件，操作简单
轻松安装
拆卸试料测量用固定治具
节省空间，设计简洁
使用分光器类型的激发光源，可以选择任意波长
可以在软件上设定激发光源的波长及步值，实现自动测量
专注于全面测量
可以测量粉剂、溶液、固体（薄膜）、薄膜试料
丰富的解析功能
- 测量量子效率（量子产额）
- 测量激发波长依赖性
- 测量发光光谱
- 测量PL 激发光谱
- 测量EEM（Excitation Emission Matrix）
应用领域
用于测量LED、有机EL 用荧光体的量子效率（量子产额）
用于测量薄膜形状试料的透射荧光•反射荧光的量子效率（量子产额）（远程荧光粉用荧光体样品等）
用于测量量子点、荧光探针、生物领域、包含化合物等的荧光
用于测量色素敏化太阳能电池的量子效率（量子产额）
用于测量络化物化合物
量子效率测定系统QE-2000产品规格
| 样式 | 3683c | 311c | 2580c | 3095c | |||||
| 测量波长范围 | 360~830nm | 360~1100nm | 250~800nm | 300~950nm | |||||
| 1 像素的波长宽度
光接收像素CH 数 |
1.0nm | 0.5nm | 1.6nm | 0.8nm | 1.2nm | 0.6nm | 1.4nm | 0.7nm | |
| 512ch | 1024ch | 512ch | 1024ch | 512ch | 1024ch | 512ch | 1024ch | ||
| 像素 | 电子冷却式CCD 图像传感器 | ||||||||
| 位深 | 16 位 | ||||||||
| 分光器光学配置 | 背底（flatfield）型F=3,f=85.8mm | ||||||||
| 激发光源 | |||||||||
| 光源 | 150W Xe 灯 | ||||||||
| 激发波长 | 250~800nm | ||||||||
| 带宽 | FWHM 5nm/Slit 0.6mm | ||||||||
| 样品抗光降解 | 自动关闭装置 | ||||||||
| 激发波长控制 | 自动控制 | ||||||||
| 积分球 | |||||||||
| 材质 | Spectralon（美国Labsphere 公司专利材料名 无中文） | ||||||||
| 尺寸 | 150mm 半球(HalfMoon) | ||||||||
| 样品固定治具 | |||||||||
| 粉剂测量固定治具 | SUS304 制，无石英盖 | ||||||||
| 溶液测量用固定治具（常温） | 石英制溶液容器（开放型） | ||||||||
| 功耗 | |||||||||
| 电源电压 | AC100~120V/AC 200~230V | ||||||||
| 软件 | |||||||||
| 量子效率（量子产额）测量
量子效率（量子产额）的激发波长依赖特性 反射光谱测量 PL 激发光谱 EEM（Excitation Emission Matrix）显示 |
二次激发校正
发光光谱测量 透过•吸收光谱测量 颜色演算（色度、色温、演色性等）
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