X射线镀层测厚仪Thick880 ---专业的金属电镀层测试专家 产品优势和特点 *超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面 *易于使用,一键操作,即可获得镀层厚度及组成成份的分析结果 *有助于识别镀层成分的创新型功能 *机身结构小巧结实,外形十分漂亮,适合放置于陈列展室 *按下按钮的数秒之内,即可得到有关样件镀层厚度的精确结果 *使用PC机和软件,可以迅速方便地制作样件的检验结果证书 *用户通过摄像头及舱内照明系统,可看到样件测试位置,提升了用户测试信心 *Thick系列分析仪测试数据可以下载和上传网络,检测结果易于查看和分享*有X射线防护锁,只有在封闭状态下才发射X射线,安全、可靠的保证客户使用 仪器应用演示 1、打开仪器上盖 2、放入样品 3、在软件中点击“开始”按钮,测量完成,显示分析结果 XRF镀层分析仪硬件性能及优势 元素分析范围从硫(S)到铀(U) 同时可以分析几十种以上元素,五层镀层 分析检出限可达2ppm,镀层分析可以分析0.005um厚度样品 分析含量一般为ppm到99.9% 。 镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同) 任意多个可选择的分析和识别模型。 相互独立的基体效应校正模型。 多变量非线性回收程序 多次测量重复性可达0.1% 长期工作稳定性可达0.1% 度适应范围为15℃至30℃。 仪器配置 高压电源 0 ~ 50KV 光管管流 0μA ~ 1000μA 数字多道分析器 摄像头 滤光片可选择多种定制切换 美国进口半导体探测器 测试时间可调 10sec ~ 100sec 仪器环境要求 环境温度 15°C ~ 30°C 相对湿度 35% ~ 70% 电源要求 AC 220V±5V, 50/60HZ