[产品简介]

作为Xradia Versa系列中的前沿产品，蔡司X射线显微镜 Xradia 610 & 620 & 630 Versa 在科学探索和工业研究领域为您开启了多样化应用的新高度。

采用光学和几何两级放大成像架构，可实现大样品高分辨率成像。闪烁体和光学物镜耦合技术可实现高衬度和增强的相位衬度成像。基于出色的高分辨率和衬度，蔡司X射线显微镜 Xradia 610 & 620 & 630 Versa 拓展了无损成像的研究界限，大大提高了研究灵活性，加快您的研究进展。创新的数据采集工作流让您无需对样品进行切割即可实现对搜索和发现的感兴趣区域进行高分辨成像，实现从探索到发现的工作流无缝衔接。全系列的Xradia Versa系统都兼容ART3.0高级重构工具箱，利用AI技术提高成像效率或改善成像质量。

[产品特点]

ü  三维无损成像

ü  真实空间分辨率: 500nm@ Xradia 610&620 Versa, 450 nm@ Xradia 630 Versa，最小体素40nm

ü  更快的成像速度

ü  独特的大工作距离下高分辨率，可实现不同类型、尺寸和类型样品多尺度成像

ü  吸收、相位和衍射衬度成像模式

ü  4D 原位成像能力

ü  可升级和拓展

[应用领域]

ü  材料科学，如三维无损分析

ü  生命科学，如微观结构成像

ü  地球科学，如地质、油气、矿产、古生物等三维成像

ü  电子和半导体行业，如形貌测量及失效分析

ü  原位力学、变温试验

ü  衍射衬度成像，实现三维晶粒取向分析