太阳能硅片厚度仪采用机械接触式测试原理，截取一定尺寸试样，测量头自动降落于试样之上，在一定压力和一定接触面积下测试出试样的厚度值。

该设备满足多项国家和国际标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817

技术参数：

测试范围 ：0～2 mm（常规）、0～6 mm、12 mm（可选）

    分 辨 率 ：0.1 μm

    测量速度 ：10 次/min （可调）

    测试压力 ：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）

    接触面积 ：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制

    进样步距 ：0～1000 mm

    进样速度 ：0.1～99.9 mm/s

    电源 ：AC 220V 50Hz

    外形尺寸 ：461 mm(L)× 334 mm(W)× 357 mm(H)

    净重 ：32 kg

太阳能硅片厚度仪微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看

严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制，测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。

赛成科技推出一系列先进的检测仪器为大专院校，科研机构，食药检验所，企事业单位提供了近万台检测设备。

赛成仪器是一家专业从事实验室检测仪器研发、制造、销售的高新技术企业，数十年来，赛成仪器始终秉承：新技术、新理念。