WI-5000传感器干涉式同轴 3D 位移测量仪系列基恩士（中国）有限公司

产品描述

仅需0.13秒即可高精度测量8万点的高度，WI-5000系列采用白光干涉原理，可实现高速、高精度的3D测量。支持各种测量，从高度差/体积测量到宽度/面积等。最大10×10mm的测量区域可瞬间获取8万个点的高度。不受材质/颜色、死角的影响，实现了微米级的高精度测量。WI-5000系列是以面进行同时测量，可大幅缩短测量时间，实现全数检测。备有可固定传感器头的专用底座，配备可削减检测工时的各种实用功能，改善操作性。

价格：面议

WI-5000传感器干涉式同轴 3D 位移测量仪 系列

产品属性

基恩士（中国）有限公司

WI-5000传感器干涉式同轴 3D 位移测量仪系列